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過敏快篩晶片 台校園黴菌現形

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【大紀元3月30日報導】(中央社記者李先鳳台北30日電)室內的黴菌污染也是導致過敏元兇之一,環保署今天公布研發成果「過敏晶片」,可快速檢測出常於台灣環境中污染的黴菌種;將於國小及幼兒園試測,預定5至7月間檢測30所學校。

行政院環境保護署環檢所長阮國棟表示,所屬環境檢驗所與成大醫技所合作研發「室內空氣致過敏性黴菌快篩晶片(簡稱過敏晶片)」,可檢驗台灣室內空氣中常見的21種致過敏性黴菌,能有效研判室內環境的可能過敏原。

阮國棟說,空氣中有常見的21種致過敏性黴菌,包括氣喘過敏原的磚格孢菌、分支孢子菌,及空氣中不得檢出的黃麴菌、煙麴黴菌、雜色黴菌、葡萄穗黴菌。

環檢所組長洪文宗指出,依據研究顯示,台灣與美國一樣,約有半數的室內環境都存在黴菌污染的問題,其中30至50%會引發呼吸道過敏、打噴嚏或咳嗽等不適症狀,甚至有21%的氣喘案例,是空氣中看不見的特定黴菌所引起。尤其是5至10歲學童,最易引發過敏症狀,因此針對這些孩童的學習場所優先檢測。

洪文宗說,黴菌污染可用鼻聞或肉眼觀察發現,但有些非常微小不易察覺,此時就可以用晶片檢測。萃取空氣中菌種的DNA,放大基因片段,再與晶片上探針產生雜合反應,即可測出哪一種致過敏性黴菌。

洪文宗表示,此晶片可在短短3至5天內檢測出室內空氣中存在的致病性及致敏性黴菌,與傳統方法須針對個別菌種檢驗,耗時1個月相比較,不但準確度高,且成本低廉、節省人力及時間,可廣泛應用於大規模樣品的快篩鑑定及大範圍調查的污染確認。

環保署預定5至7月間,分北、中、南3個區域各規劃10所學校檢測。未來將進一步與教育機關合作辦理大規模調查,也不排除將此專利技術授權或技術轉予認證的環境檢測機構,擴大使用範圍。

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