薄膜檢測論壇 台產官學齊聚

【大紀元9月10日報導】（中央社記者林孟汝台北10日電）經濟部標準檢驗局今天舉辦「奈米薄膜檢測標準技術論壇」，邀請產官學界各領域專家，共同探討薄膜材料量測標準與檢測技術相關議題。

近20年來奈米科技獨領風騷，可說是21世紀重要科技之一，其中的薄膜技術與薄膜材料發展迅速，應用於光電、綠能、通訊、機械等高新科技產業，成為重要關鍵技術。

標檢局表示，在這些技術、產業的背後，都需要完善的檢測與計量標準系統支援，換句話說，薄膜量測標準與技術是決定產品品質與附加價值的要素。

與會的專家學者分別討論「薄膜破裂韌性的重要性與量測、建立先進材料薄膜厚度量測標準並與國際接軌」、「薄膜特性量測標準化與精準化提升顯示器顯示品位與競爭力」、「多孔性材料薄膜厚度量測技術」等議題。

標檢局指出，有鑒於世界各國大力投入薄膜科技及相關量測技術研發，在奈米國家型計畫支持下，標準局將持續、積極建置相關薄膜量測參數標準系統，建立完善量測追溯鏈，推進新量測技術研發，並期望凝聚產、官、學、研的共識及力量，多管齊下，建立薄膜相關檢測能力。