愛德萬推新記憶IC測試方案

【大紀元2月16日報導】（中央社記者鍾榮峰台北16日電）測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出新一代記憶IC測試解決方案，因應行動裝置及伺服器需求，預計第2季開始出貨。

愛德萬測試表示，行動上網裝置與伺服器在資料處理量不斷激增下，記憶體晶片製造商需要具成本競爭力的測試解決方案，加快高速和高容量DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM等記憶體新品上市。

愛德萬測試表示，新款記憶IC測試解決方案，測試速度最高可達4.5 Gbps，對DDR4-SDRAM的並列同測能力，最高可達512個元件，可因應業者低成本大量測試需求。測試系統功能也有助提升產出率和產能，可降低資料傳輸延遲率。