【大紀元11月24日報導】（中央社記者鍾榮峰台北24日電）測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)新一代系統單晶片測試分類機問世，預計明年第1季開始交貨。
愛德萬測試表示，新一代系統單晶片元件測試分類機，具備溫控(Tri-Temp)技術開發的高產能主動式熱控目視調準功能，所有資料也採全新視覺化架構，使用者透過網路，可即時監控測試機台生產進度。
為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間，愛德萬測試指出，新一代分類機加入目視調準功能，定位精確度適合處理微細間距元件，以及具有頂部和底部接觸結構的半導體元件；相關精度調準功能有助縮短設定與校正時間。
愛德萬測試表示，新一代分類機可因應各種溫度測試需求，在攝氏零下10度環境下，分類機能夠連續14天不中斷運作，無需進行除霜，減少系統定時維護工作。
愛德萬測試指出，新一代分類機並行同測能力是前一代的8倍，每小時總測試產量最高可達8000個元件，並行同測能力最高可提升32倍，可因應多接腳元件測試需求。
愛德萬測試表示，新一代分類機預計明年（2014年）第1季開始交貨。
