爱德万推新一代SoC分类机

【大纪元11月24日报导】（中央社记者钟荣峰台北24日电）测试设备大厂爱德万测试(Advantest)新一代系统单晶片测试分类机问世，预计明年第1季开始交货。

爱德万测试表示，新一代系统单晶片元件测试分类机，具备温控(Tri-Temp)技术开发的高产能主动式热控目视调准功能，所有资料也采全新视觉化架构，使用者透过网路，可即时监控测试机台生产进度。

为协助客户提高测试良率、加快测试周期时间，爱德万测试指出，新一代分类机加入目视调准功能，定位精确度适合处理微细间距元件，以及具有顶部和底部接触结构的半导体元件；相关精度调准功能有助缩短设定与校正时间。

爱德万测试表示，新一代分类机可因应各种温度测试需求，在摄氏零下10度环境下，分类机能够连续14天不中断运作，无需进行除霜，减少系统定时维护工作。

爱德万测试指出，新一代分类机并行同测能力是前一代的8倍，每小时总测试产量最高可达8000个元件，并行同测能力最高可提升32倍，可因应多接脚元件测试需求。

爱德万测试表示，新一代分类机预计明年（2014年）第1季开始交货。