纽约大学以电磁共振显影技术侦测失忆症先兆

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【大纪元11月25日报导】(中央社记者林琳纽约二十五日专电)纽约大学医学院的脑科及放射科专家,以电磁共振显影的技术侦测脑部的变化,可以诊断出罹患失忆症的先兆。 

研究小组公布他们在最近六年里,针对四十五名六十岁到八十五岁之间健康人脑部的变化,大脑皮层中间颞叶在每一年的侦测时呈现大幅萎缩的人,脑力减弱的情况相当高。

参加这项实验的四十五个人当中,有十三个人在六年间有记忆力严重减退的问题,而这十三个人当中,有十一个人的中间颞叶非常明显的萎缩。专家指出,用电磁共振显影的方式侦测,准确度高达百分之九十,比起别的侦测方式精确而且方便。

专家指出,用电磁共振显影技术,任何步入高龄的人都可以一年花十五分钟的时间留下脑部中间颞叶的显影,隔年再做同样的显影,如果出现大幅的改变,就要开始注意了。

专家们指出,根据他们的实验,经常用脑也可以减缓中间颞叶的萎缩和退化,所以如果能早点侦测出罹患失忆症的风险,也可以未雨绸缪。

根据美国国家人口老化研究中心的资料,目前美国六十五岁以上人口当中罹患失忆症的人数已超过四百万。由于平均寿命提高,估计到了二零一零年,美国罹患失忆症的人口会超过五百万;二零二零年,估计会接近六百万。目前许多大药厂都加紧研发治疗记忆力减退及失忆症的药品。纽约大学专家们指出,他们的研究成果也可以运用到这方面药物的研发。

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