【大紀元2025年04月29日訊】（大紀元記者黃小堂紐約報導）紐約市公立學校用於隨機安檢的金屬探測與X光掃描設備因老化損壞，導致相關安檢程序暫時停止。市教育局正以緊急程序撥款約38.5萬美元，採購15臺新設備，以恢復掃描作業並應對校園安全日益受到關注的局勢。新設備預計將於市教育政策委員會4月30日的會議上進行合約追認。
教育新聞網站Chalkbeat報導，紐約市警局學校安全部門近日在一份緊急設備採購申請中表示，該部門「目前沒有任何一臺可正常運作的X光機器」，因而無法在校園內進行隨機金屬探測行動。過去，該單位每日平均會在三至四所學校執行未預警的安檢。
市教育局稱，金屬探測與掃描設備是維護校園安全的重要工具，並已緊急批准一筆約38.5萬美元的合約，向Smiths Detection公司採購15臺新設備。此次緊急採購程序，允許教育局在正式提交紐約市教育政策小組（Panel for Educational Policy，簡稱PEP）審議前先行購置設備。
教育局官員證實，新的掃描器尚未交貨，但並未說明安檢程序中斷已持續多長時間。原定上週進行的合約追認表決已被臨時撤下，預計將於4月30日重新表決。Smiths Detection未對媒體詢問做出回應。
責任編輯：陳玟綺
