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【大纪元5月19日报导】（中央社记者吴佳颖台北19日电）资讯工业策进会与国立交通大学合作成立“嵌入式测试中心”，可以帮助智慧型手机、家用电子装置的开发业者，评测产品的效能、耗电等数值，协助开发更具竞争力产品。
资策会表示，近年来开放式作业系统平台大量应用在各种不同的产品上；以 Android系统为例，资策会产业情报研究所（MIC）预估，Android整体产品到2013年，将达到1.26亿台的规模，包括智慧型手机、可携式装置，与家用电子装置等产品，都是嵌入式产品的一环。
先前市场专家指出，国内并无公正客观的第3方测试评比单位，可以针对各项嵌入式装置及元件，与系统效能进行效能评比。
有鉴于此，资策会与交通大学合作成立的第3方嵌入式系统测试评比单位“资策会交大嵌入式测试中心”（III-NCTU EBL），可协助进行嵌入式系统效能评比，让产品开发者可以测试装置的稳定度及效能，特别在耗电方面，取得数值。
资策会表示，测试方法有分黑箱 (Black-Box)、灰箱 (Gray-Box)及白箱 (White-Box)。
黑箱测试就是不管内部设计，只评测输入与输出的数值，可以帮助消费者或开发商，依据数值效能来选择适合的产品。白箱测试最公开，可以测得装置内部每个元件的运作效能，帮厂商找出问题迹象；而灰箱则介于中间，测得装置部分的设计效能。
资策会表示，这些测试都以开放式作业系统平台作为研究基础，来设计各种评比的方法与技术，希望透过效能评比、瓶颈剖析及系统最佳化一系列测试改善流程，提供国内嵌入式业者产品设计的参考，加强软体及硬体开发的产品竞争力。
