领先全球 标检局成功开发双光梳光频量测技术

【大纪元3月28日报导】（中央社记者管中维台北二十八日电）经济部标准检验局今天表示，标检局国家度量衡标准实验室领先全球成功开发“双光梳绝对光频量测技术”，不须藉由波长仪提供概略的频率，即可绝对量测波长介于1050至2100奈米之间任何未知雷射的频率，有助光通讯产业开发前瞻仪器及检测设备，目前已申请多国专利。

标检局指出，这项新技术的特点是直接透过“锁模雷射光梳”（简称光梳），精准测量光的频率，突破传统的复杂光频量测方法，未来还可结合相关器材，发展便于使用的携带型仪器。

标检局表示，光梳是量测光频率的一把尺，但事实上，这把尺有刻线却没有标明刻度，这项新技术利用“双”光梳同时量测光频，清楚地将刻度标定出来，目前已申请多国专利，并将在国际会议及期刊上发表。

标检局指出，双光梳绝对光频量测技术有助设计研发超宽领域的光频率计数器、光频率合成器、高解析度光频率频谱分析仪。